Единый тарифно-квалификационный справочник работ и профессий рабочих (ЕТКС). Выпуск №20.
Утвержден Постановлением Минтруда РФ от 21.01.2000 N 5
(в редакции Постановления Минтруда РФ от 12.09.2001 N 67)
Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники
§ 17. Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники (2-й разряд)
Характеристика работ. Измерение электрических параметров
радиодеталей на контрольно-измерительных приборах, автоматах и полуавтоматах в
серийном и массовом производствах. Измерение электрических параметров:
индуктивности, омического сопротивления, емкости на заданный номинал. Измерение
электрических параметров селеновых элементов на измерительных пультах.
Периодическая проверка на приборах правильности рассортировки изделий по
измеряемым параметрам. Электро- и термотренировка резисторов. Замена резисторов
и конденсаторов с точностью 5 - 15%. Самостоятельная настройка приборов по
эталону на требуемые значения электрических и электромагнитных параметров и
периодическая проверка правильности их показаний.
Должен знать: наименование, назначение и условия применения
контрольно-измерительных аппаратуры и приборов; методы проверки, настройки и
регулирования измерительных приборов в процессе работы; правила пользования
шкалами и таблицами на погрешность прибора и на изменение емкости после
прокаливания; номинальные значения и допускаемые величины измеряемых
параметров; методы измерения емкости и подгонки заданной емкости; величину
частот, на которых производится измерение магнитных параметров; основные
понятия о переменном токе; единицы измерения электрического тока; пределы
допусков для измерения по заданному классу точности.
Примеры работ
1. Изделия типа ТОЛ, ТОТ, М-63 - измерение электрических
параметров.
2. Кольца альсиферовые - измерение индуктивности и
магнитной проницаемости с рассортировкой по группам проницаемости.
3. Конденсаторы оксидные - измерение емкости, тангенса угла
диэлектрических потерь и тока утечки на приборах и автоматах.
4. Контур промежуточной частоты (фильтр) - измерение
параметров.
5. Конденсаторы и блоки керамические герметизированные
трубчатые - измерение стабильности на приборе.
6. Магнитопроводы из электротехнической стали (толщина
ленты 0,03 - 0,35 мм) - измерение электрических параметров и геометрических
размеров.
7. Микротрансформаторы - измерение сопротивления между
обмотками.
8. Пластины ферритовые - измерение электрических параметров
на специальном стенде.
9. Предохранители керамические - измерение электрических
параметров.
10. Резисторы постоянные и переменные - измерение
электрических параметров.
11. Радиолампы и кинескопы - проверка межэлектродной
емкости и напряжений.
12. Резисторы постоянные непроволочные - проверка шумомером
ЭДС шумов.
13. Стержни антенн - проверка на приборах добротности и
электрической емкости.
14. Секции и собранные конденсаторы: бумажные, слюдяные,
стеклокерамические, пленочные - измерение емкости с рассортировкой по классам
точности на приборах.
15. Сердечники - измерение магнитных параметров, измерение
добротности на омметре и индуктивности на ИЕЕВ или мосте УМ-3; проверка
удельного сопротивления и напряженности среднего поля на приборе.
16. Селеновые элементы серий "А", "Я",
"Ф", Т" всех размеров - измерение прямого и обратного тока.
17. Трансформаторы - проверка коэффициента трансформации,
асимметрии обмоток, тока холостого хода, сопротивления обмоток и изоляции.
18. Тороиды - измерение на омметре электрических
параметров.
§ 18. Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники (3-й разряд)
Характеристика работ. Измерение емкости, тангенса угла
диэлектрических потерь, тока утечки, величины омического сопротивления и Других
электрических параметров собранных радиодеталей и ферритовых изделий на
контрольно-измерительных приборах. Определение электрических параметров по
нескольким шкалам прибора или по двум и более приборам. Измерение емкостных,
обратных токов рабочих и оптимальных напряжений полупроводниковых детекторов.
Определение толщины полупроводниковых, диэлектрических, эпитаксиальных слоев
методом сферического шлифа, бесконтактным методом, контактным и разрушающим
методами. Определение типов проводимости, измерение вольтфарадных характеристик
и сопротивлений МДП и ЦЦП-структур, измерение интенсивности
электролюминесценции и величин термо ЭДС полупроводниковых материалов.
Измерение электрических параметров селеновых элементов и выпрямителей.
Испытание электрической прочности и сопротивления изоляции. Проверка
отсортированных селеновых элементов на контрольно-проверочном стенде и
купроксных выпрямительных элементов на ручном прессе и пульте. Пооперационный
контроль незалитых микромодулей в соответствии с чертежами и ТУ, контроль
качества маркировки, проверка токопроводящих линий на электропрочность и
величину сопротивления. Проверка микромодулей по картам сопротивлений и
напряжений. Подготовка образцов к измерению, изготовление сферических шлифов.
Травление и декапирование образцов в кислотах и травителях. Настройка приборов
на измерение необходимых значений электрических и электрофизических параметров.
Определение отношений тангенса угла общих потерь к начальной магнитной
проницаемости. Элементарные расчеты по формулам.
Должен знать: устройство, назначение и условия применения
контрольно-измерительных приборов; методику измерения электрических,
электрофизических и электромагнитных параметров изделий электронной техники;
свойства кислот и травителей; правила травления, декапирования и промывки;
методы измерения толщины и типов проводимости; принципиальные схемы проверки
вольт-амперных характеристик и пробивных напряжений; степень точности, пределы
измерений и цену делений шкал электроизмерительных приборов; основные
теоретические положения электро- и радиотехники.
Примеры работ
1. Выпрямители селеновые из элементов серий "А",
"Г", "Я", "Ф" всех размеров - измерение
электропараметров.
2. Двуокись кремния на кремниевой подложке - измерение
плотности сквозных дефектов слоя электрохимическим методом под микроскопом при
увеличении в 25 - 50 раз.
3. Изделия ферритовые, изделия типа ТРН-200 - измерение электрических
параметров.
4. Конденсаторы - измерение электрических параметров.
5. Кольца ферритовые, альсиферовые и карбонильные -
измерение электрических и электромагнитных параметров.
6. Микротрансформаторы ММТИ - измерение коэффициента
трансформации, электрической прочности и сопротивления изоляции, тока
намагничивания, индуктивности рассеивания, емкости между обмотками,
длительности переднего и заднего фронтов, сигналов, помех.
7. Многослойные печатные платы - разметка топологии, замеры
переходного сопротивления в отверстиях.
8. Пластины, слитки полупроводниковых материалов, слои -
определение типа проводимости; определение угла отклонения от заданного
кристаллографического направления оптическим методом.
9. Пластины с кристаллами микросхем малой степени интеграции
- проверка статических параметров.
10. Пластины полупроводниковые - определение толщины
эпитаксиальных структур методом шарового шлифа.
11. Платы электронных часов - проверка тока потребления,
генерации и диапазона перестройки кварцевого генератора.
12. Резисторы - измерение и подгонка сопротивлений;
измерение величины омического сопротивления в условиях серийного и массового
производства с точностью до +/- 5%.
13. Секции металлобумажные, пленочные - измерение
электрических параметров.
14. Секции оксидных конденсаторов - измерение емкости на
специальной установке.
15. Селеновые элементы серий "А", "Я",
"Ф", "Г" всех размеров - измерение всех электропараметров.
16. Слои диэлектрические, поликристаллические,
эпитаксиальные - измерение толщины по таблицам цветности, на инфракрасных
спектрофотометрах, измерение толщины на поляризационном микроскопе в проходящем
ИК-свете по электрооптическому эффекту в арсениде галлия.
17. Стержни ферритовые - измерение угла поворота плоскости
поляризации в заданном диапазоне.
18. Схемы интегральные - измерение электрофизических
параметров, диффузионных и напылительных процессов для ИС III степени
интеграции.
19. Трансформаторы и дроссели - измерение электрических
параметров.
20. Ферриты кольцевые марганец-цинковые - измерение
емкости, тангенса угла диэлектрических потерь.
§ 19. Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники (4-й разряд)
Характеристика работ. Измерение температурной стабильности,
температурного коэффициента и других электрических параметров радиодеталей.
Измерение электрических параметров конденсаторов на электропрочность между
выводами, сопротивления изоляции между выводами, на классы точности по емкости
измеряемых конденсаторов. Измерение электрических и электромагнитных параметров
матриц и дешифраторов. Измерение удельных сопротивлений полупроводниковых
материалов, эпитаксиальных структур и поверхностного сопротивления
поликристаллических слоев 4-зондовым методом. Определение скорости травления
диэлектрических слоев, типа проводимости структур, зависимости емкостей и
удельных сопротивлений от температуры. Определение плотности дислокации
структурных дефектов на металлографических микросхемах и однородности
распределения плотности по эталонам. Контроль статических параметров, контроль
тестов на функционирование микросхем со степенью интеграции менее 100 эл/кв.
мм. Проверка всех схем микромодулей по картам сопротивлений, напряжений и
электрических параметров в нормальных условиях и при крайних значениях
температур в камерах тепла и холода на соответствие требованиям ТУ. Запитка
напряжением различных микромодулей, установленных на стендах. Проверка по
электрическим параметрам и электрической прочности блоков селеновых
выпрямителей, измерение селеновых элементов по электрическим параметрам для
модуляторов и изделий специального назначения. Вычисление электрических
параметров по формулам и измерение их на приборах. Подготовка и настройка
установок, стендов и приборов к работе с последующей настройкой по эталонным
пластинам. Проверка правильности показаний приборов и регулировка приборов в
процессе работы.
Должен знать: устройство, принципиальные схемы, принцип
действия и способы проверки на точность обслуживаемого оборудования и приборов;
устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных приборов;
электрические характеристики измеряемых изделий; способы настройки, регулировки
и устранения мелких неисправностей приборов и автоматов; методы расчетов
температурного коэффициента емкости; методы расчетов измерения емкости после
воздействия влаги, нагрузки, холода; основы теории электротехники и
радиотехники; назначение полупроводниковых материалов и эпитаксиальных структур
и их свойства; методы расчета величины тока смещения.
Примеры работ
1. Блоки питания ЭКВМ - проверка по всем параметрам.
2. Диски пьезокерамические - измерение и расчет пьезомодуля
Д31 емкости и тангенса угла диэлектрических потерь.
3. Изделия из ферритов - измерение импульсных температурных
характеристик; измерение магнитной проницаемости на массовых схемах.
4. Конденсаторы и резисторы - измерение температурных
коэффициентов, измерение минимальной и максимальной емкости, измерение и
вычисление измерения емкости после воздействия влаги, нагрузки и холода.
5. Матрицы - измерение по электромагнитным параметрам с
плотностью от 100 до 200 чисел на 1 кв. м с шагом 1 - 1,5 мм.
6. Монокристаллический кремний и германий - измерение
удельного сопротивления 4-зондовым методом; определение плотности дислокации;
изготовление омических контактов для измерения времени жизни методом модуляции
проводимости в точечном контакте.
7. МПП с количеством точек до 3000 - проверка схемы на
установке УКП.
8. Пластины памяти и пластины дешифраторов для кубов памяти
- измерение электромагнитных параметров; нанесение микрообмотки на матрицы и
дешифраторы; нанесение флюсов на выводы пластин; расчет длительности импульса и
его амплитуды по показателям осциллографа.
9. Пластины, квадраты, кольца - измерение и расчет
электрических параметров.
10. Пластины полупроводниковые - замер неплоскостности на
установках типа 6019 с выводом значений на дисплей.
11. Платы печатного монтажа - контроль на короткое
замыкание омического сопротивления, целостности цепи тестором и на прозвоночной
станции.
12. Секции накопителей памяти - измерение и сортировка по
электрическим параметрам.
13. Селеновые выпрямители специального назначения -
измерение электрических параметров.
14. Слои и платы (МПП) - проверка на целостность цепей, на
отсутствие короткого замыкания, проверка сопротивления изоляции.
15. Слои структур арсенида галлия - измерение толщины
методом декорирования анодным окислением в ультрафиолетовом свете.
16. Ферриты - измерение СВЧ характеристик на специальных
стендах; измерение температурного коэффициента; вычисление электрических
параметров по формулам и измерение их на приборе.
17. Фоторезисторы - измерение ЭДС шумов.
18. Электронные часы - настройка частоты генератора,
проверка функциональных параметров.
§ 20. Измеритель электрофизических параметров изделий электронной техники (5-й разряд)
Характеристика работ. Измерение напряжения сигнала и
напряжения помех, фазового сдвига, величины омического сопротивления и других
электрических и электромагнитных параметров радиодеталей на специальных
стендах, контрольно-измерительных приборах, осциллографах в условиях опытного и
серийного производства. Снятие петли гистерезиса, определение коэффициента
потерь на гистерезис, а также магнитных параметров по петле гистерезиса.
Подсчет величины электромагнитной индукции и поля, необходимой для проверки
изделий. Измерение удельных сопротивлений и толщины полупроводниковых
материалов, эпитаксиальных, диэлектрических и поликристаллических слоев
различными методами. Определение плотности поверхностных состояний на границе
раздела полупроводник - диэлектрик. Определение концентрации, холловской
подвижности и оптического поглощения. Измерение кристаллов дискретных приборов
и микросхем со степенью интеграции до 1000 эл/кв. мм на измерительном
оборудовании на предмет разбраковки их по тестам, функционированию, статическим
параметрам и динамическим свойствам. Проверка сложных схем микромодулей по
электрическим параметрам. Проверка микромодулей специального назначения по
картам сопротивлений, напряжений и электрическим характеристикам на
соответствие требованиям ТУ в нормальных условиях и при крайних значениях
температур. Устранение неисправностей в обслуживаемом контрольно-измерительном
оборудовании. Подготовка системы к работе, ввод рабочих программ. Работа на
измерительных установках с применением ЭВМ. Выбор режима работы.
Документирование результатов контроля, расчет требуемых характеристик.
Должен знать: устройство, принципиальные схемы, принцип
действия и способы проверки на точность измерительных установок; правила
проверки и регулирования измерительной аппаратуры; узлы и пульты управления
электронно-вычислительной техникой; правила эксплуатации системы в различных
режимах работы; правила и способы тестирования, ввода программы с перфоленты и
с пульта, значение систем исчисления, применяемых в вычислительной технике;
методику и способы измерения электрических, электрофизических и
электромагнитных параметров изделий; способы вычисления по формулам величины
магнитного поля и индукции; способы замера расчетных величин по приборам;
правила подключения приборов к источникам питания; способы устранения
неисправностей; основы электро- и радиотехники.
Требуется среднее профессиональное образование.
Примеры работ
1. Блоки питания для вычислительных машин типа
"Минск" - проверка по всем параметрам.
2. Дешифраторы для кубов памяти - определение фазового
сдвига, измерение амплитудного сигнала на стендах и приборах.
3. Диски, призмы, кольца пьезокерамические - измерение
пьезомодуля Д31, емкости и тангенса диэлектрических потерь на измерительном
комплексе "Параметр".
4. Кольца ферритовые с ППГ - измерение электромагнитных
параметров.
5. Конденсаторы, резисторы, микросхемы - измерение и
разбраковка по основным параметрам.
6. Монокристаллический кремний и германий - изготовление
образцов и нанесение омических контактов для измерения коэффициента Холла и
удельной электропроводимости; контроль линий скольжения; определение времени
жизни методом подвижного светового зонда.
7. МПП с количеством точек свыше 3000 - проверка схемы на
установке УКПМ-2; нахождение в схеме места дефектов согласно протоколу
автоматизированного контроля.
8. Носители заряда - определение концентраций и подвижности
в интервале температур методом эффекта Холла.
9. Пластины кремниевые полированные - выявление и контроль
исчезающих и неисчезающих рисок.
10. Пластины с кристаллами ИМС и дискретных структур
транзисторов - разбраковка кристаллов по группам с использованием дисплея ЭВМ.
11. Пластины опытные и кольца - измерение электромагнитных
параметров.
12. Пластины и кольца с прямоугольной петлей гистерезиса -
снятие характеристик, измерение и расчет электрических и электромагнитных
параметров.
13. Пластины полупроводниковые - определение распределения
концентрации и подвижности носителей тока по толщине активного слоя
эпитаксиальных структур.
14. Резисторы и конденсаторы мощные - расчет нагрузок,
проведение испытаний на высоковольтных высокочастотных установках под
нагрузкой; измерение электрических характеристик до и после испытания.
15. Слои гетероструктурные на арсениде галлия - измерение
интенсивности рекомбинационного излучения.
16. Структуры эпитаксиальные - проведение комплекса
измерений на соответствие техническим уровням; измерение распределения
удельного сопротивления по глубине эпитаксиального слоя; определение удельного
сопротивления эпитаксиального слоя, имеющего одинаковый с подложкой тип
проводимости.
Похожие материалы:
Измеритель магнитных свойств
Измеритель кожевенно-мехового сырья и материалов (Часть №2 выпуска №45 ЕТКС )
Измеритель емкостей
Изнасилование
Износ и амортизация основных средств (под ред. Боровской М.А., 2008)
Износ основных средств
|